日付: 2026年7月30日 時間: 午前10時～午前11時 講演者：佐伯 哲平, アメテック株式会社 ガタン・エダックス事業部 営業課長
内殻レベルでの広域X線吸収微細構造(EXAFS)は、短距離構造や化学的秩序の分析に確立された技術であり、中距離層への拡張や、配位環境の解析への応用可能性もある技術です。透過電子顕微鏡(TEM)における広域エネルギー損失微細構造(EXELFS)は、空間分解能で明確な優位点を持つにもかかわらず、光学や検出・散乱ノイズなどの技術的困難により大きく遅れをとっています。ここでは、Cu箔のCu-Kエッジのコアロス構造に関する研究を、X線吸収分光法(XAS)と同等の微細構造解析品質をベンチマークとして比較します。さらに、ゼロロスピーク(ZLP)を用いたデコンボリューションによる多重散乱除去処理を行った結果、コアロススペクトルの動径分布関数(RDF)にてより視認性の高いフィッティングが得られたことを示します。
本Webinarでは、高品質なEXELFSデータとその解析を得るための実践的な側面を紹介します。
※本Webinarは2026年１月に実施された、King Abdullah University of Science and Technology（KAUST）のImaging and Characterization Core Labのメンバーによって実施された「High electron energy loss spectroscopy at extended fine structure」を日本語訳して実施するものとなります。
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