日付: 2026年10月2日（金） 時間: 午前10時～午前11時 講演者：佐伯 哲平, アメテック株式会社 ガタン・エダックス事業部 営業課長
F1-GIF™システムは、電子エネルギー損失分光法（EELS）とエネルギーフィルター透過電子顕微鏡法（EFTEM）における新時代を切り拓き、エネルギー分解能、エネルギー範囲、及び試料の保存性という、従来のシステムに存在したトレードオフを克服しています。画期的な光学系と次世代型直接検出技術を組み合わせる事で、1度の測定でより豊富な化学的・構造的情報を得ることができます。
本ウェビナーでは、F1-GIFが、最先端の半導体デバイスや電子線ダメージに敏感な材料から複雑な多成分材料に至るまで、今日最も高い難易度を要求される材料特性評価の課題解決にどのように貢献するかをご紹介します。実際の応用事例を通じて、どのように深い知見を得、分析を加速させ、これまで入手困難あるいは入手不可能であった情報を明らかにしているかをご覧いただきます。
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